专家答疑
1、荧光X射线、二次电子和背散电子哪一个在样品上扩展的体积最大？
答：荧光X射线扩展体积最大，见上图
2、探测限是元素的固有属性吗？
答：不是。同一元素在不同材料中、用不同分析条件时，探测限一般不相同。
3、采集二次电子信号的探头在样品的什么位置，何能有效收集二次电子？
答：检测二次电子有两种探测器，位置及收集过程见图：
答：因为二次电子有如下特点：
（1）二次电子的能量低，通常小于50eV.仅在试样表面小于5nm~10nm的深度内才能逸出表面，所以图像分辨率高
（2）图像无阴影效应(镜筒内二次电子探测器)，可以观察形貌复杂表面的形貌（例如断口试样），使图像有 立体感。
（3）易受试样表面状态、磁场和电场的影响，可以观察形貌、电畴和磁畴。一次电子是指入射电子，用于激发试样。没有三次电子。
5、如果产生大量背散射电子，二次电子2的产生量会很明显吗？探头以什么样的办法来区分？
答：SE2强度肯定会增加，通常没有办法区分。
6、请更详细地解释激发区域应如何确定，如何把握？
块状试样分析中，不需要单独计算分析范围的大小，但在特殊情况下，例如对夹杂物、细颗粒材料、薄膜或者涂层分析时，分析的范围为分析结果的有效性提供了重要依据，必须了解和计算激发区域。激发区域计算方法参见GB/T 30705—2014/ISO 14594-2009。
7、不镀膜样品除了降低加速电压外，还有其他手段可以提高观察效果吗
答：方法如下：
